放射光・中性子を利用した構造解析によるガラス固化技術高度化研究

岡本 芳浩; 永井 崇之

no journal, , 

ガラス固化試料の構造を、放射光XAFS及びイメージングXAFS、さらにラマン分光などの分析技術を使用して調べてきた。固化体は30以上の元素を含む多成分系試料なので、元素選択性に優れたXAFSの利用が効果的なためである。一方でXAFSは局所構造解析技術であり、イメージングは分解能においてミクロン単位の分析技術である。固化体の安定性を構造から議論するためには、これらの間の中長距離の構造に関する情報が必要である。固化体に含まれた成分がどの程度の距離まで秩序を有するのか、廃棄物成分を含んだことでガラスの骨格構造がどう変化しているか、分相や凝集に関する情報などが必要である。我々は、これらの構造情報を得るために、従来の構造解析に加えて、放射光と中性子を活用し、広角散乱, PDF解析, 小角散乱, 応力歪み解析をガラス固化試料に適用する。固化体の健全性を評価できるマルチスケールの構造解析を構築する計画である。